sem掃描電鏡的發(fā)展歷史你了解嗎
日期:2022-08-15 10:11:55 瀏覽次數(shù):310
隨著對微納米技術(shù)的研究和材料分析的需要,掃描電鏡在科研領(lǐng)域越來越重要,是光學(xué)顯微鏡無法比擬的。那么今天我們就給大家來講述下sem掃描電鏡的發(fā)展歷史。
電子顯微鏡通??煞譃?a href="http://www.llthg.com/product2/125.html">掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡兩類,是材料微觀分析的重要工具之一,被廣泛應(yīng)用于材料、化工、醫(yī)學(xué)、生物等各個(gè)領(lǐng)域。
電鏡的發(fā)展歷史
1924年:波粒二相性理論的提出
法國物理學(xué)家德布羅意指出:一切接近于光速運(yùn)動(dòng)的粒子均具有波的性質(zhì)。人們由此聯(lián)想是否可利用波長更短的電子波代替可見光成像?
1926年:磁透鏡聚焦理論的提出
德國學(xué)者 H. Busch 提出了運(yùn)動(dòng)電子在磁場中的運(yùn)動(dòng)理論。他指出:具有軸對稱的磁場對電子束具有聚焦作用。這為電子顯微鏡的發(fā)明提供了重要的理論依據(jù)。
1931年:**個(gè)電子圖像的獲得
德國學(xué)者Knoll和Ruska頭次獲得了放大12倍銅網(wǎng)的電子圖像。證明可用電子束和磁透鏡進(jìn)行成像。
1931-1934年:**臺(tái)透射電鏡的誕生
1939年研制成功世界上**臺(tái)商品透射電鏡,分辨率優(yōu)于 100埃;1954年進(jìn)一步研制成功Elmiskop I型透射電鏡,分辨率優(yōu)于10埃。
1939年:**臺(tái)商品透射電鏡的問世
德國學(xué)者魯斯卡等研制成功世界上**臺(tái)透射電子顯微鏡,至1934年其分辨率達(dá)到了500 埃。魯斯卡因?yàn)樵陔婄R光學(xué)基礎(chǔ)研究及以上貢獻(xiàn)獲得了1986年諾貝爾物理獎(jiǎng)。
1935年:頭次提出掃描電鏡概念。
在透射電鏡的基礎(chǔ)上, 1935年德國學(xué)者諾爾頭次提出了sem掃描電鏡的概念,1952年劍橋大學(xué)Oatley等制作了出掃描電鏡。
1965年:**臺(tái)商品掃描電鏡
1965年劍橋大學(xué)推出**臺(tái)商品sem掃描電鏡。目前其發(fā)展方向是場發(fā)射型高分辨掃描電鏡和環(huán)境掃描電鏡。
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